出願番号:特許出願平５－２９７８８３
出願日:１９９３年１１月２９日
公開番号:特許公開平７－１５１８２０
公開日:１９９５年６月１６日
出願人:株式会社穂高電子技術研究所
発明者: 谷 正明
発明の名称:耐圧試験装置
要約:
【目的】試料を劣化させることなく、耐圧試験を行えるようにする。
【構成】高電圧発生部１から試料に直流の高電圧を印加し、電流検出部３で試料に流れる電流を検出する。そして、検出された電流から異常検出部６が試料の耐圧不良や絶縁不良などの異常を検出する。異常検出部６で試料の異常が検出されたとき、サイリスタＱ1 をオンとして、試料に印加された高電圧を瞬時に降圧する。応答性の遅い高圧リレーなどの代わりに、応答性に優れたサイリスタＱ1 を用いる。これにより、試料が異常であると判断されたとき、サイリスタＱ1 で試料に印加された高電圧を瞬時に降圧し、試料を劣化させることなく、耐圧試験を行えるようにする
